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德國蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡#推薦@2023系統配置

型號:GeminiSEM

產(chǎn)品價(jià)格:電議      采購度:169      發(fā)布時(shí)間:2023/3/20 9:04:07

儀器產(chǎn)地:中國大陸      所屬地區:

簡(jiǎn)要描述: GeminiSEM都可以滿(mǎn)足您的需求。創(chuàng )新的電子光學(xué)系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒(méi)式物鏡依然可以輕松實(shí)現1 kV以下的亞納米分辨力。

產(chǎn)品詳情

本公司3月20日9點(diǎn)10分報道:GeminiSEM德國蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡#推薦@2023系統配置 
http://www.app17.com/c74886/products/d11924855.html
 

GeminiSEM系列

高分辨,不挑樣

長(cháng)久以來(lái),蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無(wú)論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿(mǎn)足您的需求。創(chuàng )新的電子光學(xué)系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒(méi)式物鏡依然可以輕松實(shí)現1 kV以下的亞納米分辨力。以下內容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統的三大獨特設計,探索蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應用潛能。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
不導電礦物蒙脫石斷裂表面的納米特征
  • 更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實(shí)現各種樣品的高分辨成像、分析和各種應用需求的拓展。

  • 更強大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應對更加復雜的分析工作。連續可調的大束流使您可以在成像和分析條件之間無(wú)縫切換。

  • 更高端的表征體驗 - 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎,讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列出色的分辨率特性。

 

優(yōu)勢

產(chǎn)品系列

了解三種型號的所有詳情,選擇符合您應用需求的一款。

 

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360

 

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360

 

 

兩個(gè)平行設計的鏡筒內探測器為樣品表征提供更全面的信息場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
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蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460

 

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460

 

 

幫助您快速分析的同時(shí)兼顧大束流和高分辨。場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡讓您的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460成為原位實(shí)驗室。

 

 

 

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560

 

蔡司GeminiSEM 560

 

 

在低電壓下表征不導電礦物顆粒的表面:GeminiSEM 560,800 V, Inlens SE。

 

佳成像條件:釹鐵硼磁鐵的磁疇襯度

 

 

“應用量子技術(shù)中心”對什么樣的研究感興趣?

Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應用量子技術(shù)中心。
Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應用量子技術(shù)中心。聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過(guò)注塑成型生產(chǎn)。
聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過(guò)注塑成型生產(chǎn)。

斯圖加特大學(xué)應用量子技術(shù)中心ZAQuant的Mario Hentschel博士描述了該小組正在研究的課題和應用、在實(shí)驗室中面臨的挑戰以及如何利用蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560應對這些挑戰。

“我們正在研究光學(xué)感應和檢測應用中復雜的微結構和納米結構。因此,我們必須在納米尺度檢查和表征我們的器件。深入了解樣品信息不僅是過(guò)程控制和優(yōu)化的核心,在解釋感應和檢測方案中涉及的局部現象時(shí)也必不可少。除了單純的表面形貌信息外,我們也對納米材料組成分以及有意和無(wú)意的局部雜質(zhì)感興趣。

"所有這些應用都要求電子顯微鏡具有高分辨率與樣品適用性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以很好地兼顧這兩點(diǎn)。它提供豐富的探測器選擇,從而能夠對表面高低起伏、材料襯度、表面邊緣以及樣品的所有不同特征進(jìn)行成像和突出顯示。在日常工作中,我們經(jīng)常面對差異大的樣品如形狀大小不同材料組成不同,給顯微表征帶來(lái)了很大的挑戰。我們能夠對要求為嚴苛且高難度的樣品(例如高度絕緣的聚合物和塑料)拍出高質(zhì)量的圖像,使荷電效應的影響小化。該系統可以在低倍和高的放大倍率下成像。在不久的將來(lái),場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560將被安裝在斯圖加特應用量子技術(shù)中心(ZAQuant)新建研究大樓的潔凈室中。ZAQuant的主要研究人員來(lái)自物理、機械、電氣工程、化學(xué)等不同域,其應用千差萬(wàn)別,因此不僅要保持優(yōu)異的成像性能,還必須確保樣品適用性。因此,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560無(wú)疑將成為實(shí)驗表征的利器。”

 DE.Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應用量子技術(shù)中心。

 

更新時(shí)間:2024/10/11 14:55:03

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