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產(chǎn)品價(jià)格:電議 采購度:160 發(fā)布時(shí)間:2023/2/14 16:43:55
儀器產(chǎn)地:中國大陸 所屬地區:
簡(jiǎn)要描述: Chroma 3650 SoC測試系統可在一個(gè)測試頭中,提供多512 個(gè)數位通道,并具備高產(chǎn)能的平行測試功能, 高可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片,以提升量產(chǎn)效 能。在Chroma 3650中,每片單一的LPC板擁有 64個(gè)數位通道,并結合具備高效能基礎的Pin Function (PINF) IC,每一顆 PINF IC 具備4 個(gè)數 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器,以提供50ps 以?xún)鹊木珳?度。
SoC測試系統主要特色:
50/100MHz測試工作頻率
512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構
32 DUTS 平行測試功能
ADC/DAC 測試功能
硬體規則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類(lèi)比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類(lèi)比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語(yǔ)言
即時(shí)pattern編輯器,含Fail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉換軟體(J750, SC312)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
經(jīng)濟實(shí)惠的VLSI和消費性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案
平行測試功能
Chroma 3650 SoC測試系統可在一個(gè)測試頭中,提供多512 個(gè)數位通道,并具備高產(chǎn)能的平行測試功能, 高可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片,以提升量產(chǎn)效 能。在Chroma 3650中,每片單一的LPC板擁有 64個(gè)數位通道,并結合具備高效能基礎的Pin Function (PINF) IC,每一顆 PINF IC 具備4 個(gè)數 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器,以提供50ps 以?xún)鹊木珳?度。
彈性化架構
雖然半導體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè),但其 資產(chǎn)設備應建立在可符合長(cháng)時(shí)間需求的設備之 上。Chroma3650在設計其架構時(shí),應用 的規劃,具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配,以確保符合未來(lái)多年的 測試需求。
CRISP (軟體測試環(huán)境)
架構在Windows XP作業(yè)系統上的Chroma 3650的 軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一個(gè)結合工程開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個(gè)部份 : 執行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過(guò)親切的圖形人機介面的設 計,CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯工具,包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組,可滿(mǎn)足研發(fā)/測試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重復任一測試 參數,包含時(shí)序、電壓、電流等,以評估其測試 流程之穩定度。
在量產(chǎn)工具的部份,透過(guò)特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺,生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測試階段。它提供產(chǎn)品 導向的圖形介面操作,用來(lái)控制 Chroma 3650 SoC測試系統、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI 的各項參數,以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進(jìn)行的工作,只是選擇 程式設計者已規劃好的流 程,即可開(kāi)始量產(chǎn),大幅 降低生產(chǎn)線(xiàn)上的學(xué)習的時(shí) 間。
低價(jià)位的測試解決方案
要配合現功能日趨復雜的IC晶片,需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成本 效益的測試解決方案,必須藉由降低測試時(shí)間和 整體成本來(lái)達成,而非只是簡(jiǎn)單地減少測試系統 的價(jià)格而已。Chroma 3650 SoC測試系統的設計即是可適用于 所有類(lèi)型的應用環(huán)境,例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅動(dòng)程式介面 (TTL& GPIB ) ,可進(jìn)行與晶圓針測機和送料機, 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。
應用支援
不管是新客戶(hù)或是現有客戶(hù),Chroma 均提供廣 泛的應用支援,以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場(chǎng)的機會(huì )、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng )新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量,Chroma 位于全球的客服支援人員皆會(huì )竭盡 所能提供客戶(hù)即時(shí)解有效率的解決方案。
深圳華普通用科技有限公司,業(yè)提供實(shí)驗室分析測試儀器和自動(dòng)化方案。公司分為儀器代理和自主研發(fā)兩大業(yè)務(wù)板塊。代理業(yè)務(wù)是和儀器公司合作,從事設備代理以及售后服務(wù)。自主研發(fā)業(yè)務(wù)是綜合運用自動(dòng)化、機器人、計算機視覺(jué)以及人工智能等技術(shù),為客戶(hù)提供標準化儀器和自動(dòng)化解決方案,降低實(shí)驗室人員工作強度,提升工作效率,同時(shí)提高工作質(zhì)量。
華普通用擁有一支高效的研發(fā)團隊和技術(shù)型的銷(xiāo)售隊伍,在公司十多年的發(fā)展過(guò)程中累了大量的行業(yè)案例和經(jīng)驗。華普通用愿通過(guò)不懈的努力,與廣大客戶(hù)、合作伙伴精誠合作,始終注于為客戶(hù)提供智慧實(shí)驗室解決方案,助力客戶(hù)成功!
更新時(shí)間:2024/10/18 11:49:13
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