報道：日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀的技術(shù)特點(diǎn)#技術(shù)新聞

據技術(shù)部6月19日11點(diǎn)21分透露：報道：日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀的技術(shù)特點(diǎn)#技術(shù)新聞http://www.app17.com/c74886/products/d11925124.html

 分光光譜儀種類(lèi)

• MCPD-9800：高動(dòng)態(tài)范圍分光

• MCPD-6800：紫外/可見(jiàn)/近紅外光分光光譜儀

• MCPD-7700：高感度分光

膜厚測量

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜

膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。

影印機感光鼓膜厚度量測

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜

LB膜測量

蒸餾膜測量

多點(diǎn)膜厚測量

• 半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）

• 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

• 塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）

• 樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜

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